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Cómo realizar un análisis de vibraciones en componentes de equipos automatizados

自动化设备零部件振动分析:FFT频谱快速傅里叶变换将时域波形转频域频谱(每个垂直峰值谱线代表一个离散振源+读取频谱识别谱线频率相对转频和轴承几何+振幅是否增长);故障特征频率1x转频=不平衡+2x=不对中+BPFI/BPFO轴承滚道缺陷+BSF/FTF滚动体保持架+GMF齿轮啮合频率(峰值确认故障类型严重度看振幅);传感器选择加速度计最常用(宽频耐用易用压电/MEMS灵敏度mV/g)+stud-mount安装频率响应最佳磁吸探头适合快速非永久测量+低速机械用速度传感器或位移探头;量测选择加速度g适合高频轴承故障用包络分析+速度mm/s RMS按ISO 10816评估整体状态+位移µm峰峰值用于低频轴相对位移+包络解调揭示高频冲击重复模式;采样要求奈奎斯特采样率必须超2倍最高分析频率(5kHz分析需10kS/s最低)+12秒@10kS/s=120000样本/通道;诊断流程时域波形查冲击摩擦+FFT频谱查特征峰+相位分析判振源+振幅增长趋势+基线数据存CMMS资产档案。

Cómo realizar un análisis de vibraciones en componentes de equipos automatizados

Análisis de vibraciones: el espectro FFT es la herramienta de diagnóstico principal (Fuente: Tractian): **Reglas fundamentales:** 1x Desequilibrio, 2x Desalineación (Fuente: Tractian); **Núcleo:** Frecuencias características de falla (Fuente: iFactory) — **Nota:** Frecuencia de muestreo ≥ 2 veces la frecuencia más alta (Fuente: Industrial).

I. Espectro FFT

FFT: Transformada rápida de Fourier del dominio del tiempo al dominio de la frecuencia (Fuente: PLC IO);
Líneas espectrales: Cada pico = una fuente de vibración (Fuente: E/S del PLC); Eje horizontal: Frecuencia; Eje vertical: Amplitud (Fuente: STEM); Diagnóstico: Fallo en la ubicación del pico (Fuente: Tractian) — FFT: Ubicación del espectro (método principal).

II. Frecuencias características

1x: Frecuencia de rotación = Desequilibrio (Fuente: Tractian);
2x: = Desalineación (Fuente: Tractian); BPFI/BPFO: Defectos en la pista de rodadura del rodamiento (Fuente: iFactory); BSF/FTF: Jaula de elementos rodantes (Fuente: iFactory); GMF: Frecuencia de engranaje (Fuente: iFactory) — Características: 1x/2x/BPFO/GMF (huella digital de falla).

III. Selección de sensores

Acelerómetro: El más utilizado es de banda ancha y duradero (Fuente: STEM); Tipo: Piezoeléctrico/MEMS (Fuente: STEM);
Sensibilidad: mV/g (Fuente: STEM); Montaje: El montaje con espárrago ofrece la mejor respuesta en frecuencia (Fuente: STEM); Baja velocidad: Utilice sondas de velocidad/desplazamiento para bajas velocidades (Fuente: STEM) — Sensor: Acelerómetro + montaje con espárrago (clave para la instalación).

IV. Selección de medición

Aceleración: g de alta frecuencia + envolvente de rodamiento (Fuente: Ingeniería);
Velocidad: mm/s RMS según ISO 10816 (Fuente: Ingeniería); Desplazamiento: µm de pico a pico, eje de baja frecuencia relativo (Fuente: Ingeniería); Envolvente: impacto de alta frecuencia demodulado (Fuente: F7i); Ultrasonido: anomalía audible con desplazamiento descendente (Fuente: F7i) — Medición: aceleración de alta frecuencia + velocidad ISO (doble pista).

V. Requisitos de muestreo

Nyquist: Frecuencia de muestreo ≥ 2 veces la frecuencia más alta (Fuente: Industria);
Caso de estudio: el análisis de 5 kHz requiere 10 kS/s (Fuente: Industria); Volumen de datos: 12 segundos a 10 kS/s = 120 000 puntos (Fuente: Industria); Línea base: Espectro de carga a velocidad normal (Fuente: Cryotos); Condición de operación: Temperatura de carga a velocidad registrada (Fuente: Cryotos) — Muestreo: 2 × frecuencia (datos válidos).

VI. Proceso de diagnóstico

Dominio del tiempo: Comprobar el impacto de la forma de onda original (Fuente: Cryotos);
Espectro: Comprobar los picos característicos mediante FFT (Fuente: Cryotos); Fase: Determinar la fuente del sistema acoplado (Fuente: Dynamox); Tendencia: Tendencia de crecimiento de amplitud (Fuente: E/S del PLC); CMMS: Añadir la línea base a la biblioteca de activos (Fuente: Cryotos) — Proceso: Dominio del tiempo + Espectro + Tendencia (Diagnóstico en tres pasos).

VII.
Recomendaciones de Adquisición

Primero, seleccionar el sensor (acelerómetro); segundo, medir cuantitativamente (velocidad ISO); tercero, mediante muestreo (2×frecuencia); cuarto, establecer la línea base (biblioteca de activos);
quinto, ajustar la fase (determinación de fuente acoplada) — Análisis de Vibración: Espectro + Sensor + Línea Base (Bucle Cerrado de Tres Líneas).

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