Analyse vibratoire : le spectre FFT est l’outil de diagnostic principal (Source : Tractian) : **Règles fondamentales :** 1x Déséquilibre, 2x Désalignement (Source : Tractian) ; **Élément essentiel :** Fréquences caractéristiques des défauts (Source : iFactory) — **Remarque :** Fréquence d’échantillonnage ≥ 2 fois la fréquence la plus élevée (Source : Industrial).
I. Spectre FFT
FFT : Transformée de Fourier rapide – Domaine temporel → Domaine fréquentiel (Source : PLC IO) ;
Lignes spectrales : Chaque pic correspond à une source de vibration (Source : E/S PLC) ; Axe horizontal : Fréquence ; Axe vertical : Amplitude (Source : STEM) ; Diagnostic : Défaut de localisation des pics (Source : Tractian) — FFT : Localisation spectrale (méthode de base).
II. Fréquences caractéristiques
1x : Fréquence de rotation = Balourd (Source : Tractian) ;
2x : Défaut d’alignement (Source : Tractian) ; BPFI/BPFO : Défauts des chemins de roulement (Source : iFactory) ; BSF/FTF : Cage des éléments roulants (Source : iFactory). GMF : Fréquence d’engrènement (Source : iFactory) — Caractéristiques : 1x/2x/BPFO/GMF (signature de défaut).
III. Sélection du capteur
Accéléromètre : Le plus couramment utilisé, large bande et robuste (Source : STEM) ; Type : Piézoélectrique/MEMS (Source : STEM) ;
Sensibilité : mV/g (Source : STEM) ; Montage : Le montage sur goujon offre la meilleure réponse en fréquence (Source : STEM) ; Basse vitesse : Utiliser des sondes de vitesse/déplacement pour les basses vitesses (Source : STEM) — Capteur : Accéléromètre + montage sur goujon (élément clé pour l’installation).
IV. Sélection de la mesure
Accélération : g haute fréquence + enveloppe de roulement (Source : Engineering) ;
Vitesse : mm/s RMS selon la norme ISO 10816 (Source : Ingénierie) ; Déplacement : µm crête à crête, axe basse fréquence relatif (Source : Ingénierie) ; Enveloppe : impact haute fréquence démodulé (Source : F7i) ; Ultrasons : décalage vers le bas de l’anomalie audible (Source : F7i) — Mesure : accélération haute fréquence + vitesse ISO (double voie).
V. Exigences d’échantillonnage
Fréquence de Nyquist : Fréquence d’échantillonnage ≥ 2 fois la fréquence la plus élevée (Source : Industrielle) ;
Étude de cas : L’analyse à 5 kHz nécessite 10 kÉch./s (Source : Industrielle) ; Volume de données : 12 secondes à 10 kÉch./s = 120 000 points (Source : Industrielle). Référence : Spectre de charge à vitesse normale (Source : Cryotos) ; Conditions de fonctionnement : Température de charge enregistrée (Source : Cryotos) — Échantillonnage : 2 × fréquence (données valides).
VI. Processus de diagnostic
Domaine temporel : Vérification de l’impact de la forme d’onde d’origine (Source : Cryotos) ;
Spectre : Vérification des pics caractéristiques par FFT (Source : Cryotos) ; Phase : Détermination de la source du système couplé (Source : Dynamox) ; Tendance : Évolution de l’amplitude (Source : E/S PLC) ; GMAO : Ajout de la référence à la bibliothèque d’actifs (Source : Cryotos) — Processus : Domaine temporel + Spectre + Tendance (Diagnostic en trois étapes).
VII.
Recommandations d’approvisionnement
Premièrement, choisir le capteur (accéléromètre) ; deuxièmement, effectuer une mesure quantitative (vitesse ISO) ; troisièmement, par échantillonnage (2 × fréquence) ; quatrièmement, établir la ligne de base (bibliothèque d’actifs) ;
cinquièmement, synchroniser la phase (détermination de source couplée) — Analyse vibratoire : Spectre + Capteur + Ligne de base (boucle fermée à trois lignes).
